长沙艾克赛普仪器设备有限公司是一家专注于仪器工控设备、测试方案系统集成的科技企业。作为专业的仪器设备及测控集成ATE提供商，多年来坚持自主研发创新，结合引进代理各大品牌的优质仪器设备，致力于提供更科学智能的软硬件测试方案。如有需求请致电我们，我们将为你提供的测试方案。
- 简介
■ TH2838，TH2838H，TH2838A 是采用当前的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，其%的基本精度、达 的测试速度、20Hz-2MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于测量低D电容器和高Q 电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。TH2838，TH2838H，TH2838A 支持20V交流测试信号和40V直流偏置的高功率测试条件、增强的多参数列表扫描/多参数图形分析能力将有利于用户扩展元件全面评价的能力。TH2838，TH2838H，TH2838A 是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料（电子材料和非电子材料）的研究和开发提供了强有力的工具。TH2838，TH2838H，TH2838A 以其性能可以实现如IEC和MIL标准的各种测试。
- 应用
■ 无源元件:
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析
■ 半导体元件:
LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件:
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
■ 介质材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料:
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料:
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
- 技术参数
产品型号 TH2838 TH2838H TH2838A 测试信号源 信号源输出阻抗 100Ω， ±1% @1kHz 测试频率 范围 20Hz-2MHz 20Hz-1MHz 设置步进 - 1mHz - 10mHz - 100mHz - 1Hz - 10Hz - 100Hz AC测试信号模式 额定值(ALC OFF)：设定电压为测试端开路时Hcur电压设定电流为测试端短路时从Hcur流出电流恒定值(ALC ON)： 保持DUT上电压与设定值相同 保持DUT上电流与设定值相同 AC信号 电压范围 5mVrms -- 2Vrms F≤1MHz 5mVrms-- 20Vrms F >1MHz 5mVrms -- 15Vrms 5mVrms -- 2Vrms 分辨率 5mVrms -- 100µVrms -- 200µVrms -- 1Vrms 500µVrms 1Vrms -- 2Vrms 1mVrms 2Vrms -- 5Vrms 2mVrms 5Vrms -- 10Vrms 5mVrms 10Vrms -- 20Vrms 10mVrms 电流范围 50µArms -- 20mArms 50µArms --100mArms 50µArms -- 20mArms 分辨率 50µArms -- 2mArms 1µArms 2mArms -- 5mArms 2µArms 5mArms -- 10mArms 5µArms 10mArms -- 20mArms 10µArms 20mArms -- 50mArms 20µArms 50mArms--100mArms 50µArms Rdc测试 电压范围 100mV — 2V 分辨率 100µV 电流范围 0mA— 20mA 分辨率 1µA DC偏置 电压范围 0V — ± 10V 0V — ± 40V 0V — ± 10V 分辨率 0V -- 5V 100µV 5V -- 10V 1mV 10V -- 20V 2mV 20V -- 40V 5mV 电流范围 0mA— ± 100mA 分辨率 0 A -- 50mA 1µA 50mA -- 100mA 10µA 电压源 电压范围 ------ -10V -- 10V ------ 分辨率 ------ 1mV ------ 电流范围 ------ -45mA -- +45mA ------ 输出阻抗 ------ 100Ω ------ 显示器 尺寸/类型 7英寸 (对角线)TFT LCD显示器 比例 16：9 分辨率 800×RGB×480 测量功能 测试参数 Cp-D,Cp-Q,Cp-G,Cp-RpCs-D,Cs-Q,Cs-RsLp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-RdcLs-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc, RdcR-X, Z-θd, Z-θrG-B, Y-θd, Y-θrVdc-Idc 数学功能 A(X+B)+C， X为测试参数，A、B、C为输入参数 等效电路 串联、并联 偏差测量 与标称值的偏差Δ，与标称值的百分比偏差Δ% 校准功能 开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD 量程选择 自动AUTO、手动HOLD 量程 LCR 100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、 100kΩ，共15档 Rdc 1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ，共15档 触发模式 INT、MAN、EXT、BUS 触发延迟 0 s -- 999 s，分辨率100us 测试端配置 四端对 测试电缆长度 0m, 1m, 2m, 4m 测量平均 1-255次 测量时间(ms) 速度模式 20Hz 100Hz 1kHz 10kHz 100kHz 1MHz 2MHz FAST 330 100 20 MED 380 180 110 92 89 88 88 LONG 480 300 240 230 220 220 220 测量显示范围 a 1×10-18； E 1×1018 Cs, Cp ± aF -- EF Ls,Lp ± aH -- EH D ± -- Q ± -- R, Rs, Rp, X, Z, Rdc ± aΩ -- EΩ G,B,Y ±1. 000000 aS -- ES Vdc ± aV -- EV Idc ± aA -- EA θ r ± a rad -- rad θ d ± deg -- deg Δ% ±% -- % t 无 Turn Ratio (待扩展) ± -- 基本测量准确度 %(详见说明书) 列表扫描 扫描点数 最多201点 扫描参数 测试频率、AC电压、AC电流、DC BIAS电压、DC BIAS电流 第二扫描参数 无、量程方式、测试频率、AC电压、AC电流、DC BIAS电压、DC BIAS电流、直流源电压。注：已选择的扫描参数参数不能再选为第二扫描参数。 触发模式 顺序SEQ 当一次触发后，在所有扫描点测量。/EOM/INDEX只输出一次。 步进STEP 每次触发执行一个扫描点测量。每点均输出/EOM/INDEX，但列表扫描比较器结果只在最后的/EOM才输出。 列表扫描比较器 可为每个扫描点设置一对下限和上限。可选择：通过扫描参数判断/通过第二参数判断/不用于每一极限。 列表扫描时间标记 在顺序模式中，将触发点设定为0时，通过定义时间就可在每个测量点记录测量开始的时间。 图形扫描分析 扫描点数 51、101、201、401、801点可选 ------ 扫描轨迹 主/副参数可选择 ------ 显示范围 自动、锁定 ------ 坐标标尺 对数、线性 ------ 扫描参数 频率、ACV、ACI、DCV BIAS/DCI BIAS、直流电压源 ------ 扫描结果显示 主/副参数值/最小值、设定点主/副参数值 ------ 扫描图形存储 扫描图形可存储于仪器内部FLASH、外部USB存储器或上传上位机。 ------ 比较器 Bin分档 主参数 9 BIN、OUT_OF_BINS、AUX_BIN和LOW_C_REJECT 副参数 HIGH、IN、LOW Bin极限设置 值、偏差值、百分偏差值 Bin计数 0 -- 999999 PASS/FAIL指示 满足主参数为9 BIN之一、副参数为IN，前面板PASS灯ON，否则FAIL ON 测量辅助功能 数据缓冲存储功能 201个测量结果可分批读取 保存/调用功能 40组仪器内置非易失存储器测试设定文件500组仪器USB存储器测试设定文件/截屏图形/记录文件 键盘锁定功能 可锁定前面板按键 接口 USB HOST端口 通用串行总线插座，A类；FAT16/FAT32格式。U盘存储或条形码扫描 USB DEVICE端口 通用串行总线插座，小型B类（4个接触位置）；与USBTMC-USB488和USB 相符合，阴接头用于连接外部控制器。 LAN 10/100BaseT以太网，8引脚，两种速度选择 HANDLER接口 用于Bin分档信号输出 外部DC BIAS控制 控制TH1778/TH1778S偏置电流源，最多一台TH1778+5台TH1778S (120A MAX) RS232C 标准9针，交叉 GPIB (选件) 24针D-Sub端口（D-24 类），阴接头与、2和SCPI兼容。
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