X荧光光谱仪属于分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术为基础，结合国外相关的技术发展成果，研制出具有自主知识产权的EDX 1800B型X荧光光谱仪。

EDX1800B性能优势：

1.超低能量分辨率，轻元素检测效果更佳

使用大面积铍窗电致冷SDD探测器，探测器分辨率低达到139eV，各项指标优于标准。SDD探测器具有良好的能量线

性、良好的能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。

2. 测试精度更高，检出限更低

①化的样品腔设计，带可调速的自旋样品腔，能有效的测定轻元素和减少样品均一性的影响，提高样品的测试精度。

②采用超小超真空的样品腔设计，保证测试时达到10Pa以下，使设备的测试范围可从F元素起测试，大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。

3. 分析速度更快，从第1秒即可得到定性定量结果

采用自主研发的数字多道技术，其线性计数率可达100kcps，可以更加快速的分析，从第1秒可以得出定性定量结果，

设计成高计数率，大大提高了设备的稳定性。

4. 一键式智能化操作

软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，使操作简易，对操作人员限制小的特点。

5. 强大的自动化功能

①自动化程度高，具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。

②采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

6. 强度校正法

具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

7. 完善的光路系统

自主研发的光路系统，光程更短，光路损失更少，激发效果更佳。

8. 三重安全防护功能

三重安全防护功能，自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏；加厚防护测试壁；配送测试防护安全罩。

9. 安全警示系统

警告指示系统，通电时绿色指示灯亮，测试时黄色辐射指示灯闪烁，防止误操作

EDX1800B技术参数：

型号：EDX1800B

X射线源：50KV、1mA

样品腔体积：Φ×

分析方法：能量色散X荧光分析方法

测量元素范围：原子序数为16～92[硫（S）到铀（U）]之间的元素均可测量

检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素

含量范围：ppm～%

检测时间：200秒

检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末

探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器低至125eV

激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择

摄像头：高清摄像头

测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下，大气、氦气均可以

准直器和滤光片：四组准直器（7、5、3、1mm），6种滤光片组合自动切换

自旋装置：可调速的自旋装置

检出限：对样品中的大多数元素来说，低检出限达5～500ppm

数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率

测试台：360°电动旋转式

保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成

样品放置：的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动

数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高至500kcps

外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG

操作环境湿度：≤90%

操作环境温度：15℃～30℃

应用领域

RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测