HNWDL-8000温升三相大电流发生器 青岛华能专业定制 电缆热循环装置 生产厂家

又称：大电流温升试验设备，大电流温升试验系统，大电流温升试验装置

功能简介：

     HNWDL-10000温升三相大电流发生器主要用于母线槽，开关，开关柜和其它电器设备作电流负载试验及温升试验。

功能特点：

1）内置高配置工控机，采用可编程控制器西门子S730PLC作为中心处理器，对交流信号进行实时扫描,实现监测和闭环控制，并设计设置管理，只有获得相应操作权限的人员，才能进行某些功能的操作。一直以来，工程师关注的一个重点就是波形的稳定性。然而在对波形的长时间监控中，突发的数据干扰往往难以捕捉，就成为了许多工程师的心头之患。本文介绍几种实用功能，协助工程师们快速异常数据的位置。查看波形是电子测量仪器常用的一个功能。为了确保波形是否稳定运行，工程师们往往需要对观测信号进行长时间的采样检测，本文介绍ZDL6示波记录仪常用的3种波形异常检测功能，可以通过这3种功能迅速到异常数据的发生位置，大大提高测试效率。

2）进口PC机15英寸真彩大液晶触摸工业平板电脑操作，采用支持现场总线技术的智能型传感器，实现数据传送的全数字化，显示操作单元选用了触摸式彩色液晶显示屏，全中文菜单，界面清晰直观，操作简单方便。测试无需外接任何辅助设备，全自动控制，式操作，快捷、简单、方便

3）本仪器测试方法有全自动测试与手动测试两种方法，只需设置简单的试验电流与时间即可。带有自动稳流系统，配有4个USB口，轻松U盘、打印机等多种设备。并以通过鼠标接口直接操作。提供RS232和RS485两种通讯接口选择，可与后台计算机连接，通过RS232接口可以直接与电脑PC机通讯，可以打印曲线，提供电脑通讯软件；实现数据和温度曲线打印；Simplelink传感器控制器是的16位处理单元(CPU)核心，在活动模式、待机模式和启动耗能阶段均只消耗极低功率。如图2所示，该传感器控制器包括模拟和数字外围设备，它们专为实现超低功率而进行了优化。利用这些外围设备和2MHz时钟模式，使得该控制器非常适合感应式测量应用，从而实现超低功率：，基于感应式测量原则，可以在100Hz时达到低至3.9μA的平均电流消耗值。欲了解详情，请参阅流量表应用示例，阅读“采用CC13x2R无线MCU的单芯片流量表解决方案。

4）只需设置好目标电流即可，无需人工监控，仅需设定测试、电流和步长，省去手动调压、人工记录、描绘曲线等烦琐劳动，减小劳动强度，提高工作效率也可工作结束后把数据读到电脑上查看即可。

5）有超过限定值自动报功能具有可靠的过热、过流、过压及短路自我保护功能。交流调压装置保护应采用微机自动保护控制和机械微动限位开关双重保护，确保恒流电源正常工作，提高产品的**性、可靠性。

Atmel、赛普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已经把部分用户可定义逻辑添加到自己的部件上，用于修复部分此类问题。这些器件主要是带附加逻辑的微控制器。CPU仍然是主要的处理器件，附加逻辑的作用是提高CPU的工作效率。这类器件常见于成本敏感性产品中，但也在低级任务中用作小型协处理器，以减轻主处理器的负担，从而提升效率。另一方面FPGA也正在朝着类似的目标前进，虽然是从另一个方向。赛灵思和Altera多年来一直在添加软硬核处理器以创建片上系统。

主要技术指标：电流值由客户根据需要确定

型号		HNWDL-8000A
大输出电流		交流单相8000A  3组
电路方式		电动柱式调压器
交流输入	相线	3Φ4W +G
	电压	380V±10%，50Hz±2%三相四线
	输入电流	834A
输出	相线	1Φ2W +G
	开路电压	0-20V自动转换
	电流	AC  0-8000A连续可调   准度：0.5
	稳流准度	输出电流≤±0.2%
	输出端子	接线端子
	保护	电子电路快速侦测过电压、过电流、过高温自动跳脱保护及告装置 非测试状态电压为零，电流为零

青岛华能专业定制 电缆热循环装置 生产厂家半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。