HNDL800 JP柜 配电箱温升试验系统 青岛华能生产三路配电箱温升试验装置 厂家直供 

用于箱变,配电箱额定电流温升试验。温升试验装置技术性能需满足根据GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等试验标准对开关柜进行试验的要求。半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

1.2 技术参数要求

恒流输出电流：AC范围 0到额定电流，连续可调， 且该输出电流为真有效值（指负载被试开关柜及相关标准规定的试验附件， 可输出的电流有效值， 电流稳定输出时间应满足工作时间要求）

输出波形：标准正弦波

输出频率： 50Hz （+5%， -2%）

输出电压：0-6V，且连续可调

工作时间：大电流输出不少于24小时

输出相数：三相  多路

两种额定电流的解释1.HeatingCurrent功率电感在DC-DC电路中，电流经过时，会消耗一定的功率（铜耗Copperloss+磁耗Coreloss），消耗功率会导致电感的温度上升，电感一般工作温度有一定范围，比如WE的电感允许的operatingtemperature:-40°C-+125°C，ambienttemperature:-40°C-+85°C。为了电感可以在一定的温度范围内正常工作，电感厂商会给出一个"基于电感温度上升的额定电流"即HeatingCurrent，这个参数的限定值是根据电流在电感上的热效应定义的，在大部分公司的电感的手册里，以Idc（直流电流）来表示这个电流。

具备供电电源三相输入电压、输入电流显示功能

具备试验过程记录功能（持续记录输出电压、输出电流相关数据）

具备试验结果自动计算功能

具备传输后编辑报告生成功能

具备全自动测试与手动测试两种方法，全自动测试时只需简单设置试验电流、时间、记录步长即可，带自动稳流系统。系统跟踪目标电流，自动调整、平衡三相输出电压、电流，并可自动记录电流、电压数据，。

1.3 恒流源配置列表：（按照客户具体需求配置）

青岛华能生产三路配电箱温升试验装置 厂家直供TEMCELL一般只找方值，使测试结果对摆放的位置比较敏感。另外，还有一种测试工具较箱，有的设计公司用来对天线进行有源测试，这种方法很不可行。一方面由于测试距离太近，另一方面由于没有足够的吸波材料，外部干扰对天线的测试影响比较大，这样导致测试结果对位置比较敏感，稍微改变一下位置测试结果就有比较大的改变，因此这种测试方法对天线的性能没有多少的参考意义。用耦合测试板测试天线性能在生产过程中为了保证产品的生产品质，往往要进行天线的耦合测试。