信维光时域反射仪
美国信维S20A/N光时域反射仪
小的一款高性能OTDR
产品描述：
ShinewayTech® palmOTDR/N系列掌上型光时域反射仪是一款匠心的光纤线路寻障分析产品，为光纤通信网测试提供了一种全新的应用方式，其稳定性和惊人的性价比在广受瞩目。
其与传统OTDR相比，尺寸更加小巧，操作更为简洁，的热键功能使事件的浏览和分析更加快捷；功能齐全，全面满足单模 (1310nm/1550nm)、多模(850/1300nm)光纤测试应用需求，支持平均/实时双测量模式；其多功能背包亦充分考虑到了野外作业和实验室测试的操作方便，可充分满足不同用户和各种现场测试需求，使其成为目前发展迅速的农话网、城域网和FTTx光纤施工、认证、例检、抢修和维护中的工具。
另外，其强大的内部存储能力，可与随机配带的迹线管理软件——TraceManager通信，实现测量结果的后期分析处理、存档及打印；其可互换光接头设计，满足了多种连接器类型的应用需求。
产品特点：
>全面应用：单/多模应用可选
>灵活的动态范围选择：24/32/38dB不同配置，轻松匹配各种客户需求
>灵活的动态范围选择：24/32/38dB不同配置，轻松匹配各种客户需求
>快速启动，测试速度业界
>的热键设计模式：按键操作集成热键功能，快捷定位及分析事件点
>TraceManager软件：轻松实现批量编辑、打印，以及单页多迹线打印功能
>配置可见光源：可迅速定位网络中宏弯、光跳线、跳线板、配线架、接头处的故障
>优化的供电设计：确保内置的NiMH充电电池，一次充电可支持8小时测量
>掌上型，轻巧便携：仅重1kg (2.2 lbs)
>安全、坚固：通过CE安全及2米坠落测试，使用安心
性能参数：
| 型 号(1) | palmOTDR | |||
| S20A/N | S20B/N | S20C/N | M20A/N | |
| 动态范围 (dB) (2) | 24/24 | 32/32 | 38/37 | 18/22 |
| 光纤类型 | 单模 | 多模 | ||
| 波长 (±20nm) | 1310/1550 | 850/1300 | ||
| 显示屏类型 | TFT纯彩 | |||
| 光源类型 | LD | |||
| 光接口 | FC/PC(可互换SC, ST) | |||
| 测试范围 (Km) (3) | 0.3、1.3、2.5、5、10、20、40、80、120、160、240 | 0.1、0.3、0.5、1.3、2.5、5、10@850nm; 0.1、0.3、0.5、1.3、2.5、5、10、20、40、80@1300nm | ||
| 脉宽 (4) | 5ns、10ns、12ns、30ns、100ns、275ns、300ns、1µs、2.5µs、10µs、20µs | 12ns、30ns、100ns、275ns、1µs@850nm; 12ns、30ns、100ns、275ns、1µs、2.5µs@1300nm | ||
| 测量时间 | 15s、30s、1min、2min、3min | |||
| 衰减盲区 | 25m(5) | 15m(5) | ||
| 事件盲区 | 10m(5) | 3m(5) | 7m(6) | |
| 测距精度 | ±(1 m + 5×10-5×距离+取样间距) | |||
| 衰减测量精度 | ±0.05 dB/ dB | |||
| 反射测量精度 | ±4 dB | |||
| 数据存储 | 1000条测试曲线 | |||
| 通信接口 | RS-232/USB | |||
| 可见光源(该功能仅palmOTDR-S20B/N和C/N型具有) | ||||
| 输出功率(dBm) | ≥-3 | |||
| 测试距离(km) | 5 | |||
| 其他参数 | ||||
| 供电方式 | 双路供电：NiMH充电电池/ AC适配器 | |||
| 电池工作时间 | 一次充电后：连续操作≥8小时；待机时间≥20小时 | |||
| 工作温度 | 0℃ ~ 50℃ | |||
| 保存温度 | -20℃ ~ 70℃ | |||
| 相对湿度 | 0~95％无结露 | |||
| 重 量 | 1kg (2.2 lbs) | |||
| 体积 (H×W×T) | 220×110×70mm (8.7×4.3×2.7 inch) | |||
注释：
（1）技术指标描述了用典型PC型连接器进行测量时仪器的保证性能。不考虑由于光纤折射率导致的不确定度；
（2）动态范围是在脉冲宽度、平均时间3分钟条件下测得；
（3）距离范围中160Km档和240Km档只对本仪表的B/N、C/N型有效；120Km档只对本仪表的A/N型有效；
（4）脉宽中5ns、10ns、300ns、10us档和20us档只对本仪表的B/N、C/N型有效；12ns和275ns档只对本仪表的A/N型有效；
（5）盲区测量条件：对A/N型，反射事件在2.1Km处，反射强度<-35dB，用30ns脉宽进行测量；对B/N、C/N型，反射事件在0.6Km处，反射强度<-45dB，事件盲区用10ns脉宽进行测量，衰减盲区用30ns脉宽进行测量；
（6）盲区测量条件：反射事件在1Km处，反射强度<-32dB，用12ns脉宽进行测量。
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