X射线光谱有害元素分析仪EDX-9000是一款采用X射线荧光光谱仪器技术用于有害元素分析测试的有害元素测试仪器,可测硫S到铀U元素范围,分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm,它采用极速探测器技术（SDD）可将测试时间降低到1秒,还采用了skyray天瑞仪器产品精密的定位系统,可实现图像联动控制,多点连续测试。

　　X射线光谱有害元素分析仪EDX-9000特色

　　快—1秒钟出结果

　　采用行业的极速探测器技术——（SDD）分辨率低至125eV

　　优势：探测面积大（面积达25mm2）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低

　　采用行业的数字多道技术

　　优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率可达600KCPS

　　采用大功率X光管及*的准直滤光系统，激发效率更高

　　光闸系统优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度

　　精密的定位系统

　　超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点

　　多点测试

　　2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试

　　超小样品检测——小可测到0.2毫米

　　8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择

　　准直器小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测

　　人性化的设计

　　更安全：X射线联动安全装置——光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动

　　更快捷：多点测试，点哪测哪

　　预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试

　　预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，

　　关机前可设定声光提示

　　X射线光谱有害元素分析仪EDX-9000技术参数

　　测量元素范围 ：硫（S）～铀（U）

　　测量时间：1s或以上

　　检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm

　　含量范围：2ppm～99.9%

　　管压：5～50KV

　　管流：≤1000uA

　　探测器：SDD探测器，分辨率可达125eV

　　准直器：8种准直器自动切换

　　滤光片：4种滤光片自由切换

　　样品观察：高清工业摄像头

　　环境湿度：≤70%

　　环境温度：15℃～30℃

　　电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）