Formtracer表面粗糙度、轮廓形状一体机
Formtracer SV-C3200/4500 525 系列 — 表面粗糙度和轮廓测量系统
通过更换检测器，一台机器上能测量表面粗糙度和轮廓形状的一体型测量机 ，同时能测量表面粗糙度和测量轮廓形状的混合型测量机 。
产品特点 |
| • Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的显示分辨力为0.0001μm(测量范围为8μm时)。 | |
| • X轴内置玻璃光栅尺，直接读取X轴移动距离，在定位下，完成间距参数的评价。 | |
| • 检出器测力有4mN和0.75mN可选。 | |
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| • Z1轴(检出器)上配有弧形光栅尺和测臂。弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现精度和分辨力。与其他型号相比，测臂使Z1轴测量范围增大了10mm 同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。 | • 为SV-C-4500系列增加了以下两大特性作为轮廓测量系统的功能。 装配双锥面测针，实现垂直方向(上/下)连续测量，所获取的数据实现测量内螺纹有效直径。测力可在FORMTRACEPAK软件中设置。不用调整配重。 |
| •表面粗糙度/轮廓FORMTRACEPAK分析程序，通过简单的操作就能进行分析并即刻输出结果。 | |
| • 表面粗糙度测试仪和轮廓测量仪结合在一起，节省安装空间。 | |
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| • 测臂安装为一键式装卸 测臂安装部采用了磁性连接件，实现了较快速更换。此外，装卸部内置了安全结构。 | |
产品规格 |
| 货号 | SV-C3200S4 | SV-C3200H4 | SV-C3200W4 | SV-C3200S8 | SV-C3200H8 | SV-C3200W8 | |
SV-C4500S4 | SV-C4500H4 | SV-C4500W4 | SV-C4500S8 | SV-C4500H8 | SV-C4500W8 | ||
| 测量表面粗糙度时 | |||||||
| 测量范围 | X 轴 (驱动部) | 100mm | 200mm | ||||
| Z1 轴 (检出器) | 800μm/80μm/8μm | ||||||
| 直线度 | (0.05+L/1000) μm L: 驱动长度 (mm) | 0.5μm/200mm | |||||
| 分辨力 | Z1轴（检出器） | 0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm) | |||||
| 测力 | 0.75mN (机身代码末尾带 “-1"的型号) 4mN (机身代码末尾带“-2"的型号) | ||||||
| 测针针尖形状 | 60º, 2μmR (机身代码末尾带 “-1"的型号) 90º, 5μmR (机身代码末尾带 “-2"的型号) | ||||||
| 对应尺寸 | JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA | ||||||
| 评价参数 | Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P q, Pmr(C), Pmr, P&c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc, RSm, R q, Rmr(C), Rmr, R c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W q, Wmr(C), Wmr, W c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW | ||||||
| 评价轮廓 | 原始轮廓、粗糙度轮廓、滤波波纹轮廓、波纹轮廓、滚动圆波形原始轮廓、滚动圆波形 轮廓、包络残余线、DF 轮廓 (DIN4776 / ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF (包络波纹轮廓在评 价MOTIF 时显示) | ||||||
| 分析图 | 负荷曲线、振幅分布曲线、功率谱、自相关、Walsh 功率谱、 Walsh 自相关、峰分布、 倾斜角分布、参数分布(磨损量、重叠在轮廓分析可以用于面积等的原始分析) | ||||||
| 曲线补偿 | 平方直线、R 面补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、双曲线补偿、二次曲线补偿、多项式 补偿(自动或任意2~7 次)、无补偿 | ||||||
| 滤波器 | 高斯滤波器, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 鲁棒样条滤波器 | ||||||
| 轮廓测量 | |||||||
| 测量范围 | X轴（驱动部） | 100mm | 200mm | ||||
| Z1轴（检出器） | 60mm (测臂水平位置±30mm) | ||||||
| 直线度 | 0.8μm/100mm | 2μm/200mm | |||||
| 精度 | X轴（驱动部） | ±(0.8+0.01L)μm L: 驱动长度 (mm) | ±(0.8+0.02L)μm L = 驱动长度 (mm) | ||||
| Z1轴（检出器） | SV-C3200 系列: ±(1.6+|2H|/100)μm, SV-C4500 系列: ±(0.8+|2H|/100)μm H: 水平位置上的测量高度 (mm) | ||||||
| 分辨力 | X轴（驱动部） | 0.05 μm | |||||
| Z1轴（检出器） | SV-C3200 系列: 0.04μm, SV-C4500 系列: 0.02μm | ||||||
| Z2轴（立性） | 1 μm | ||||||
| 测力 | SV-C3200 系列: 30mN (可调使用重量) SV-C4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根据软件转换) | ||||||
| 侧头方向 | SV-C3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下单独测量) SV-C4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向根据配重调整) | ||||||
| 通用时 | |||||||
| Z2轴 (立柱) 移动量 | 300mm | 500mm | 300mm | 500mm | |||
| X 轴倾斜角度 | ±45º | ||||||
| 驱动速度 | X 轴0 | 0 - 80mm/s 外加手动 | |||||
| Z2 轴 (立柱) | 0 - 30mm/s 外加手动 | ||||||
| 测量速度 | 0.02 - 5mm/s | ||||||
产品选件 |
| Y 轴工作台：178-097 | |
| 对多个排列工件和同一测量面上的多点进行自动测量。 | |
| 旋转工作台 q1 轴：12AAD975* | |
| 提高轴向/ 横向上的测量效率。当测量一个圆筒形工件时，与Y 轴台相配合进行自动调准。 * 当直接安装在SV-3100 主机工作台上使用时，需要另行选购q1 轴安装板(12AAE630)。 | |
| 旋转工作台q2 轴组件：178-078* | |
| 可实现自动测量圆柱形状测量工件的多处、正反两面。 * 如想直接安装在SV-3100 主机工作台上使用，需要另行选购q2 轴安装板(选配 : 2AAE718) | |
| 定心(滚花环固定) ：211-032 | 微型快速卡盘：211-031 |
| 测量小型物件时，采用滚花环达到固定的目的。 | 采用它可以固定小直径的工件。 |
| 自动调水平工作台：178-087 | |
| 当测量开始后，它可以自动调整水平。此外，操作简单和可靠。 | |
| 其他选件 |
检测器●测针
| 检测器 | 接头 |
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*产品信息仅供参考，型号和技术参数生产厂家有可能随时更改
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