今天小编给大家讲讲影响膜厚计测量的因素：
1.磁厚度测量受基体金属磁变化的影响(在实际应用中，低碳钢的磁变化可以认为很小)。为了避免热处理和冷加工因素的影响，仪器应使用与测试件的基体金属具有相同性能的标准件进行校准。待涂覆的试件也可用于校准。
2.基体金属的电学性质：基体金属的电导率影响测量，而基体金属的电导率与其材料成分和热处理方法有关。用与测试件的基体金属具有相同特性的标准件校准仪器。
3.基体金属厚度：每种仪器都有一个基体金属的临界厚度。超过这个厚度，测量不受基体金属厚度的影响。
4.边缘效应：这种仪器对样品表面形状的突然变化很敏感。因此，在样本的边缘或内角附近进行测量是不可靠的。
5.曲率：试样的曲率对测量有影响。这种效应总是随着曲率半径的减小而明显增大。因此，弯曲试样表面的测量是不可靠的。
6.试样变形：
7.表面粗糙度：基体金属和覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增加，影响增加。粗糙的表面会导致系统误差和意外误差。在每次测量期间，应增加不同位置的测量次数，以克服此类意外误差。
8.磁场：各种周围电气设备产生的强磁场会严重干扰磁法测厚。
9.附着物质
10.探头测时压力
11.膜厚计探头方向：探头的位置会影响测量。测量时，探头应保持垂直于样品表面。
