温度冲击试验可用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批生产阶段的例行试验中*的试验项目，在有些情况下 也可以用于环境应力筛选。可以说，其在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。该试验项目在我国装备常用的环境试验标准GJB 150-86《设备环境试验方法》(以下简称GJB 150)，以及GB 2423《电工电子产品基本环境试验规程》(以下简称GB 2423)和美军标MIL-STD-810F《环境工程考虑和实验室试验》(以下简称810F)中均是一项独立的试验项目。三个标准中这一试验项目在某些 内容甚至在概念上存在较大差异。

  本文对这三个标准中的这一试验项目进行对比分析：
  1、GJB 150.5(1986) 设备环境试验方法 温度冲击试验
目的：确定设备对周围大气温度急剧变化时的适应性
应用产品层次：设备
  2、MIL-STD-810F 第II部分方法503.4(2001)　环境工程考虑和实验室试验　第II部分实验室试验方法温度冲击程序1、恒定极值温度冲击　　程序2、基于高温循环的冲击
目的：确定装备能否经受其周围大气温度的急剧变化，而不产生物理损坏或性能下降。“急剧变化”定为“大于１０度／分钟”
应用产品层次：元部件设备
  3、GB2423.22-87(1987)电工电子产品环境试验规程温度变化试验方法　　Na　规定转换时间的快速温度变化试验　　Nb 规定温度变化速率的温度变化试验　　Nc两液槽温度快速变化试验
目的：确定元件、设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力
应用产品层次：元器件、设备和其他产品

  试验目的：
  三个系列标准中温度冲击试验叙述的试验目的是基本一致的，只是表达方式略有区别。应当指出，这种表达方式略有区别。应当指出，这种表达方式比较含糊和笼 统。实际上温度冲击试验作为一种工具，应用在产品研制生产的不同的阶段时的目的是不同的。工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷；产品定型或设计鉴 定和批产阶段用于难产品对温度冲击环境的适应性，为设计定型和批产验收决策提货依据；作为环境应力筛选应用时，目的是剔除产品的早期故障，因此在编写研制 过程不同阶段的环境试验大纲或筛选大纲，试验报告或筛选报告时，应将其目的的具体化，不宜象1、2、3中的那样压缩地表述。

  应用对象
  三个系列标准中温度冲击试验的应用产品层次略有不同。GJB 150规定只适用于设备，而810F和GB 2423中规定可适用于元器件、部件、设备等各个组装等级。GJB 150是以美军标810C/D两个版本为基础制定的，美军标体系中元器件温度冲击试验另有单独的试验标准MIL-STD-202F《电工电子元器件环境试 验方法》。我国也以202F标准为基础制定了我国的电工电子元器件的环境试验方法标准GJB　360《电工电子元器件环境试验方法》，这两个标准中均有温 度冲击试验分标准。因此，GJB150和810C/D中温度冲击试验应用产品于设备。GB 2423系列标准属于欧洲电工委员会(IEC)标准的体系，尚未发现该标准体系中单独给出元器件的环境试验方法标准，所以GB 2423适用于各个组装等级产品的规定有一定的合理性。然而810F中规定也适用于元部件规定，是与202F标准相矛盾的，不够合理，目前没有见到如此规 定的说明。
应用介质
GJB 150和810F的温度冲击试验中规定使用的介质限于空气，而GB 2423温度变化试验中的，Na、Nb使用的介质也为空气。Nc试验使用的介质是液体。使用什么样的介质主要取决于产品实际寿命期内遇到的介质类型。显然 使用液体作为介质进行的温度冲击试验更为严酷。
对试验设备的要求
列出了三个系列标准中温度冲击试验对试验箱的要求，由于都是属于温度试验的范畴，因为其对温度冲击试验箱的要求是与对温度试验箱要类似的，其主要区别 是增加了温度冲击试验中开箱放入试验样品后试验箱内空气温度恢复到规定试验温度的时间要求。下面对各种要求作-------说明。

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