2023年01月12日 11:13:58 来源:北京远岚电器有限责任公司 >> 进入该公司展台 阅读量:21
点到直线(点投影)测量 该功能用于测量棱镜点偏离基线起点的长度(X)、棱镜点偏离基线的距离(Y)和相对基线起点的高差(Z)。 测量前的准备工作为:设置仪器高和目标高和基线的定义。仪器高和目标高的输入这里不再叙述。 基线定义:在点投影界面中,选择“2.设置基线”进入选择设置基线点方法窗口。 调取基线点 当按[2]键,选择调取基线点时,进入输入或调取点窗口,如图所示,可以按[输入]键输入坐标点,也可以按[调取]键调取坐标点,完成后按[确认]键,进入基线终点的坐标输入,方法与起点相同,完成后返回到菜单。 测量基线点 在点投影菜单中,当按[1]键,进入到“点投影(起点)”窗口按 [测量]键启动测距,完成测距后,按[确认]键进入“点投影(终点)”窗口,按[测量]键启动测距。完成测距后,按[确认]键结束基线定义返回点投影测量主界面,选择“3.点投影测量”可以进行点投影的测量了。 点投影测量 在点投影菜单中,按[3]键,进入“点投影-测量”窗口,按[测量]键,启动测距,完成测距后即可显示待测点在基线上的偏离长度(X),偏距和偏离高差(Z)。 按[F4](翻页) →其中“标高”键用于重新输入目标高,“翻页”键用于选择所显示的是 X、Y、Z 还是测量点的平距、斜距、高差。 点投影法在基坑变形监测中的应用 水平位移监测是基坑变形监测的一项重要及必要内容,点投影法在全站仪上的直接应用,给基坑水平位移监测工作带来了巨大便利。 (1)、节省外业观测时间 由于基坑监测的特殊工作环境影响,监测过程中施工机械的遮挡、震动影响以及炎热天气等情况,缩短外业观测时间能提高工作效率,提高监测的准确性,同时也减轻作业人员的压力。 (2)、提高内业处理效率 内业数据处理是一个反复琐碎的过程,更要谨慎、细心。特别是监测数据的处理,由于监测数据量大,既要对原始数据进行各种平差等处理,又要制作各种成果表、曲线图,还要分析其变化趋势以及原因,不容出错。使用点投影法就能有效地解决问题,使用点投影法进行外业监测时,在建立好基准面后,直接对监测点进行观测,即能得到所需的位移量,将其与上次相减即能得到本次位移量,与相减即得到累计位移量,内业处理方便、快捷,且不易出错。 (3)、基坑变形反应更直观 基坑水平位移监测主要是通过监测点的变化来反应基坑的变化,由于基坑四周都会布置监测点,那么对于某一个监测点,我们只需要得到垂直其所在基坑边方向上的变化即可,而对于其他方向的变量,对基坑监测意义不大。因此,使用其他方式测量,还要进行内业处理加工,而使用点投影法就能方便快速的得出我们想要的数据,并能直观的反应基坑的变化,从而更好地达到监测的目的。
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