纯绝缘子跨线接地时，就像电容器一样。在理想的绝缘体中，作为绝缘体的绝缘材料也为100％纯，流经绝缘体的电流仅具有电容性成分。没有电流的电阻分量，就像理想的绝缘材料一样，通过绝缘子从线路流到大地，杂质为零。 在纯电容器中，容性电流使施加的电压90。

实际上，绝缘子不能制成100％纯的。同样由于绝缘子的老化，诸如灰尘和湿气之类的杂质也进入其中。这些杂质为电流提供了导电路径。因此，通过绝缘子从线路流向大地的漏电流具有电阻成分。

因此，不用说，对于良好的绝缘体，漏电流的电阻分量非常低。以另一种方式，电绝缘体的健康状况可以通过电阻性组件与电容性组件的比率来确定。对于良好的绝缘体，该比率将非常低。该比率通常称为tanδ或tanδ。有时也称为耗散因数。

在上面的矢量图中，系统电压沿x轴绘制。导电电流，即泄漏电流的电阻分量I R也将沿着x轴。

由于泄漏电流I C的电容分量使系统电压超前90，因此它将沿y轴绘制。

现在，总泄漏电流I L（I c + I R）与y轴成角度δ（例如）。

现在，从上面的图中，它被清零，比率，我ř到I ç不过的tanδ或损耗角正切。

注意：此δ角称为损耗角。

介质损耗测试仪（又称全自动抗干扰异频介损测试仪）测试方法

首先将要进行tanδ测试或耗散因数测试的电缆，绕组，电流互感器，电压互感器，变压器套管与系统隔离。在要测试其绝缘的设备上施加非常低的频率测试电压。首先，施加正常电压。如果tanδ值看起来足够好，则施加的电压将升高到设备正常电压的1.5到2倍。的损耗角正切控制器单元需要测量tanδ值的。损耗角分析仪与tanδ测量单元连接，以比较正常电压和更高电压下的tanδ值并分析结果。

在测试过程中，必须以非常低的频率施加测试电压。

应用极低频率的原因

如果施加电压的频率高，则绝缘体的电容电抗变低，因此电流的电容成分高。电阻元件几乎固定；这取决于绝缘体的施加电压和电导率。随着电容电流在高频下变大，电流的电容分量和电阻分量的矢量和的幅度也变大。

因此，正切测试所需的视在功率将变得足够高，这是不实际的。因此，为了保持此耗散因数测试的功率要求，需要非常低的频率测试电压。tanδ测试的频率范围通常为0.1到0.01 Hz，具体取决于绝缘材料的大小和性质。

还有另一个原因，必须使测试的输入频率尽可能低。

据我们所知，

这就是说，损耗因子tanδ∝ 1 / f。

因此，在低频下，tanδ值较高，并且测量变得更容易。

如何预测介质损耗测试仪测试的结果

在损耗角正切或耗散因数测试期间，有两种方法可以预测绝缘系统的状况。

首先，一个是，通过比较先前测试的结果来确定由于老化效应而导致的绝缘状况的恶化。第二个是直接从tanδ值确定绝缘条件。无需比较tanδ测试的先前结果。如果绝缘是的，那么在所有测试电压范围内损耗因子都将大致相同。但是，如果绝缘不充分，则tanδ的值会在较高的测试电压范围内增加。

从图中可以明显看出，tan和δ值随测试极低频电压的增加而非线性增加。tanδ的增加意味着绝缘中的高电阻电流分量。可以将这些结果与先前测试的绝缘子的结果进行比较，以做出是否更换设备的正确决定。