EMC测试分为两个主要类别：

排放测试：确保电力线，通信线和系统本身发出的能量保持在可接受的限制之内。设备通常会失败，因为它的某些部分会产生过多的辐射能量。

免疫测试：验证正在测试的设备（EUT）即使受到外部干扰也能保持功能。失败的常见原因是，一个或多个EUT的组件对应用的电场或磁场过于敏感。

从产品开发的早期阶段来解决EMC的遵守非常重要，而仍然有时间解决任何问题。一旦设计和构建系统，就很难进行必要的修改。

不幸的是，当在正式的EMC测试活动中出现问题时，很难甚至不可能知道问题的确切位置。例如，说我们正在EMC室中测试系统。每个EMC问题都有三个部分：

受害者：受排放影响的组件。

耦合路径：从源到受害者的路线。

EMC腔室测量了远处的排放，因此这里的受害者将是测量天线，而路径将是腔室内的自由空气。但是，我们仍然不知道排放的来源。

另外，说计算机的屏幕在辐射免疫测试中开始眨眼。该问题的效果在屏幕上可见，但是问题的来源可能是屏蔽电缆有故障的屏蔽，主处理器对测试频率的敏感性或其他内容。

识别电磁干扰（EMI）的原因通常需要特殊工具。实际上，如果该工具是近场探测器，则只有一种工具可以消除数小时的故障排除。在EMC测试期间，我们可以使用近场探针来识别来源和受害者。正如我们在文章后面讨论的那样，它们也可以用来验证EMI屏蔽的有效性。

什么是近场探测器？

近场探针（图1）是诊断工具，用于测量与其来源紧邻的电磁场。它们使其对电场或磁性（H）磁场敏感。相比之下，远场测量不能将电子场地与H场分开，因此很难确定干扰的来源。

近场探针的物理工作是基于麦克斯韦的方程式。将电子场探针放入时变电场时会产生可测量的电压。同样，H场探针在存在时间变化的磁场的情况下会产生可测量的电流。

近场探针，无论是电子场还是h场，通常都与频谱分析仪一起观察频率分布。但是，如果要观察时间变化，也可以使用示波器使用近场探针。

为什么在EMC测试中使用近场探针？

如上所述，近场探针可以帮助我们在EMC故障排除期间进行以下操作：

确定排放源。

查找敏感组件。

验证屏蔽的有效性。

确定排放源

让我们回到个示例中，在那里我们在EMC室内测试系统并遇到过多的排放。要进行故障排除，我们需要知道哪个组件或结构是问题的根源。近场探测如何帮助我们找到它？

在近场中，我们将拥有一个主要的电场或磁场。因此，我们将需要电子场和H场探针来找到排放源。为了测量发射水平，我们将探针放置在电路附近。知道排放量高的频率或频率，我们可以测量EUT周围的磁场或电场。

查找敏感组件

在免疫测试中，我们应用强电场或磁场，并观察系统是否按预期工作。当系统失败测试时，这是因为组件或组件组对应用的字段及其频率敏感。假设我们知道可能干扰EUT的频带，我们可以将信号发生器连接到探针并生成一个在EMC实验室中观察到的行为的场。

验证屏蔽有效性

EMI屏蔽可吸收或反映电磁能。图2显示了EMC胶带的一个示例，EMI屏蔽形式。

EMC胶带用于屏蔽电子设备。