牛津仪器推出新款 X-Strata920 X射线荧光 (XRF) 镀层测厚仪 /product/thickness-tester/和材料分析仪。牛津X-Strata920结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管，使X射线光束强度大、斑点小，样品激发更佳，确保同级别中精确性，分析结果只需要几秒钟，从而获得更有效的过程控制和性价比。
    牛津X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920 是按操作简单、精确度高、物有所值的理念来设计。大面积样品可用X-Strata的多点分析功能一次完成分析。如果发现问题区域，操作员可以返回到特定点用探针进行精确详细的分析。内置相机和实时扫描成像功能确保样品精确放置。X-Strata920 甚至不需要操作人员看管就可以确保您在生产过程中的停工期降到。
X-Strata920 配有各种材料筛选应用的校准包，预装了超过800种应用参数/方法。为了增强消费者信心，X-Strata920 符合国际测试方法，如ASTM B568和ISO 3497。
X-Strata920 具有的系统安全性的特点，为日常操作员设定简单的用户界面，而管理员级别可进入系统进行维护，并通过自动锁定功能防止未的操作。改进的报告功能允许几秒内将结果导出到Excel表格和创建自定义报告，包括统计数据分析和样品图象。X-Strata920 为这些行业提供了：
以更有效的过程控制来提高生产力
有助电镀过程中的生产成本最小化、产量
快速无损地分析珠宝及其他合金
快速分析多达4层镀层
经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
操作简单，只需要简单的培训