广告招募

如何根据具体选用选择X荧光设备进行RoHS分析

2025年12月27日 09:21:11      来源:厦门亿辰科技有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:3

分享:

来源:中国电子商情
作者:英国牛津仪器 John I.H. Patterson博士
主要内容:X荧光技术(XRF)一直以来都是元素分析领域的一种常用技术。因此,当有关限制电子电器产品中的有害物质的法令颁布后(例如欧盟和中国的RoHS指令),XRF自然也就成为了业界所认可的一种值得信赖的检测手段。在绝大多数的相类似指令中,都限定材料中的铅、汞、六价铬,多溴联苯(PBB)和多溴联苯醚(PBDE)的含量必须分别低于0.1%,镉的含量必须低于0.01%。运用XRF技术能够在直接分析物质中的铅、汞、镉元素含量,并达到相关法令所要求的检测精度;XRF技术可检测铬的总含量,但无法分辨其在不同原子价状态下的各自含量;同样,运用XRF技术可以检测溴的总含量,但是无法判断在不同种类的溴的化合物的分别含量。综上所述,当被测样品为均质材料且样品材料厚度满足XRF测试要求的条件下,XRF的测试结果能够对厂家控制和检测物质中的有害元素提供非常有价值的信息。目前标准组织ASTM下属的ASTM F-40委员会一直在致力于制定相关的标准测试方法来规范相关材料中有害物质的分析。下文中将提到的关于测试塑胶样品中的有害物质的测试方法已经非常的接近于即将被批准和公布的测试方法了……
全文请点击下载CEM-April1.pdf。
版权与免责声明:
1.凡本网注明"来源:全球供应商网"的所有作品,版权均属于全球供应商网,转载请必须注明全球供应商网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容,如涉及侵权、违规遭投诉的,一律由发布企业自行承担责任,本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。 4.如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系。