光源系统故障
氘灯或钨灯损坏是核心问题。当仪器提示"能量太低"时，需优先检查光源寿命。例如，氘灯在起辉瞬间闪动或灯丝发红但无法正常起辉，通常因起辉电路故障或灯电流调整晶体管损坏。钨灯失效表现为两端电压正常但灯不亮，需用万用表检测灯丝电阻。保险丝熔断可能伴随供电异常，需检查电源电压稳定性。

信号传输异常
通讯错误常源于数据线接触不良。若自检提示"通讯错误"，应检查RS232/USB接口连接状态，确认软件配置的COM口与实际端口匹配。零点漂移问题多见于简易仪器，其炭膜电阻电位器因接触不良导致，需更换高精度电位器。当吸光值出现负值时，需确认是否执行空白记忆操作，并检查参比液与样品液的吸光值关系。

光学系统故障
基线噪声异常涉及多维度因素。全波长基线噪声大时，需检查光源镜位置是否偏离入射狭缝，同时确认石英窗表面是否存在样品溅射污染。紫外区噪声突出时，需排查氘灯老化程度，或通过研磨滤光片消除结晶物。波长校准失败时，可通过656.1nm特征谱线验证，高档仪器可调用自动校正功能，简易仪器需专业人员调整波长传动机构。

机械结构问题
样品架定位偏差直接影响测量重复性。当吸光值信号摆动时，需检查推拉式样品架的定位碰珠是否磨损，或采用金属活化剂清洗氧化触点。光闸失效表现为T=99%无法调节，需检查弹簧张力或清除异物卡阻。比色皿污染会导致紫外区吸光值异常，需用250nm波长检测空比色皿吸光值，确保其小于0.07Abs。

日常维护中，建议每周开机预热30分钟，定期清洁密封窗及透镜，使用石英比色皿并避免溶液溅入样品室。环境湿度应控制在60%以下，必要时配备稳压电源。故障排查应遵循"先外后内"原则，优先检查电源、连接线等外围部件，再逐步深入光学系统。