X荧光光谱仪（XRF）的定性和定量分析主要基于样品辐射出的荧光X射线的特性和强度。以下是定性和定量两种分析的基本步骤和原理：

一、定性分析

样品制备：样品需要制备成薄片或颗粒状，通常使用磨片机或压片机进行制备。在制备过程中，需要注意不要引入其他元素，以避免干扰分析结果。

照射样品：使用X射线源对样品进行照射，激发样品中的元素发出荧光X射线。

测量荧光X射线：利用荧光X射线探测器测量样品辐射出的荧光X射线的能量和强度。

谱图比较：将样品荧光X射线的能量和强度与已知标准样品的谱图进行比较，以确定样品中各种元素的类型和含量。这通常涉及到对谱图中不同元素的特征谱线进行识别和分析。

确定元素类型和含量：通过谱图比较，可以确定样品中含有哪些元素，并通过谱峰强度的相对大小和谱图形状进一步确定元素的含量。

二、定量分析

样品制备：与定性分析相同，样品需要制备成薄片或颗粒状，并避免引入其他元素。

照射样品和测量荧光X射线：同样使用X射线源照射样品，并利用探测器测量荧光X射线的强度。

建立标准曲线：对于每种元素，需要建立一条标准曲线，表示该元素的浓度与其特征谱线强度的关系。这通常需要使用一系列已知浓度的标准样品进行测量，并绘制出浓度与强度之间的关系图。

定量分析：在测量未知样品时，可以通过测量其荧光X射线的强度，并在标准曲线上找到对应的浓度值，从而实现对样品中元素含量的定量分析。

创想台式X荧光光谱仪