X荧光光谱仪(XRF)是由激发源(X射线管)和探测系统构成。X荧光光谱仪是一种重要的分析仪器，按色散方式的不同，X射线荧光光谱仪可以分为波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）和能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）。按照应用方式，X射线荧光光谱仪又可分为手持式、台式机等多种类型。

那么X荧光光谱仪有什么不同于别的仪器的优势呢？

分析速度快：测定用时与测定精密度有关，但通常都很短，可以在2~5分钟内测完样品中的全部待测元素。

非破坏性分析：在测定过程中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象，因此同一试样可以反复多次测量，结果重现性好。

应用广泛：X射线荧光光谱仪能够分析从金属、矿石、土壤、矿渣、陶瓷、玻璃、涂料、塑料等各种样品中的所有元素，因此在多个领域都有广泛的应用，如工业生产中的质量控制、地质矿产勘探、环境监测、文物保护以及科学研究等。

总之，X荧光光谱仪因其多种分类和显著优势，在多个领域都发挥着不可替代的作用。如需更多关于X荧光光谱仪的信息，建议查阅仪器分析专业书籍或咨询该领域专业人士。