一般情况下，荧光光谱仪要求被分析的样品应具有平坦而均匀的被照射面积，才能获得可靠而精确的结果。

这些光谱仪的照射面积比较大（一般直径20毫米以上），然而，很多贵金属产品，例如金银项链，铂金钻戒等都比较精致，形状结构复杂，有的还镶嵌珠宝或其他合金，因此，使用这类X荧光光谱仪难以对此类贵金属产品进行可靠的分析。

虽然使用小孔光阑或准直器可以获得微束实现微区检测。但是，小孔光阑或准直器在缩小光束光斑大小的同时也降低了光束的能量，导致为了得到较高的光束能量，所使用的X射线管需要具有大功率，增加了驱动难度和散热问题。同时，由于降低了光束能量，对于包金层、镀金层过厚的贵金属制品无法检测。

手持式X荧光光谱仪

为了解决上述问题，1991年，Kumakhov等人将X光透镜引入X射线荧光光谱仪中实现微区检测（WO9208325）。X射线荧光光谱仪中使用Kumakhov透镜调整光束，可以在不损失光束能量的同时获得小的照射光斑，照射到样品上的光束具有高强度。

X光透镜能够在不减小照射能量的情况下获得小的照射光斑，逐渐成为贵金属检测用XRF中产生微束的主要手段。但是，由于 X 光透镜是通过利用透镜中的X 射线的反射、散射、

吸收或诸如此类使X射线聚焦的装置，在高能量X射线的情况下（高能量X射线是检测贵金属所必须的），反射、散射或吸收的效率低，且因偏离聚焦光程而导致的照射样本上除焦点以外的一部分的概率变大。换言之，在使用X光透镜的方法中，高能量X射线的聚焦效率低，且微弱照射焦点外围以及因此离焦的光晕分量增加（在样本表面处扩展的分布）。结果，在受激的高能量X射线是必需的情况下，不可能忽视由于同时激发波及焦点外围的区域而造成的影响并且损失了关于X射线分析中那一部分正被测量的准确度，使得测量精度成为问题。