一、X荧光光谱仪正确建立面向应用的标样的重要性
　　
　 标准样品应该和实际测试的样品尽可能相同。但实际上一般标准样品公司的标准样品为了保证其市场通用性，大都和实际检测材料偏离较多。而这大大影响了X射线荧光光谱仪的使用，有时检测的值偏离几十甚至上百倍。按照X射线荧光光谱仪的理论是可以进行相对更精确的定量分析的。很多设备的用户是中小型企业，往往不可能再负担更加昂贵且使用成本高昂的ICP_OES，将一台数十万的设备如何发挥它的性能，这是其用户最迫切关心的问题。

　　
　　二、建立X荧光光谱仪标准样品库的步骤

　　
　　 如何建立面向应用的标准样品呢？可以从以下几步实施：
　　
　　1、先将用户要检测的样品材料进行分类，将不同材质的样品分成不同类别。
　　
　　2、同类别的材料再按其基材和主要组份分类。
　　
　　3、同基材的材料按照其主要组份进行归一化分类。

　　
　　4、确认归一化的材料的组份差别控制在可容许范围内，并确认其中应无影响谱线的不确定特征干扰元素出现，或者按照供应商进行分类。
　　
　　5、在1-4步基础上(用户可根据自己需要的精确度和可操作性选择进行到那一步)最后细分的类别，使用全谱直读光谱仪器对其中的主要组份、相关组分和待测组分进行定量分析。并根据待测组分的含量情况可以人为添加一定量的待测元素，为了保证添加的元素的状态稳定，应尽量添加其稳态化合物。以此建立给分类材料的标准样品，并使用该标准样品在X射线荧光光谱仪上建立标准曲线。
　　
　　6、根据用户需要，不断扩充标准样品种类，并对应材料使用者进行对应的物料编号或使用用户编号，使操作员能准确使用对应的标准曲线进行该类材料的检测。

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