X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。

X荧光光谱分析仪能够快速分析矿石样本、精矿、矿渣的金属元素成分。允许用户通过运用特殊校正因子来进一步提高检测精度。它对矿山原场地所采集的矿石样品可以直接测试，但这会影响到元素的品位值，因为元素在矿石中的含量分布不均匀，仪器所测试的点不能代表整个矿石，理想的分析效果要求我们对矿石样品进行烘干，研磨（160目以上） ，搅拌均匀后再测试，对于含量几个PPM级的元素，测试时间长些，相应的精度也会跟着提高。

手持式X荧光光谱仪矿石分析仪

X荧光光谱仪在阳光直射的高温，高日照量的情况下也能保持高性能的特点，这得益于仪器设计中充分考虑低功耗及X射线管高温的及时排放，所以它可承受恶劣的工作环境。它的可分析元素可从从镁矿（Mg）到钚矿（Pu）之间的所有83种自然矿石，包括重金属矿石Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd等。对高品位、精选矿石精确的品位评定，提供矿石采集、收购价值依据，也可对矿渣、尾矿中残存的矿石元素分析，再次判定其价值在矿石开采过程，搪孔过程，研磨、浓缩和熔炼过程中进行品检，确定品位，对滤熔池、存储塘和钢槽溶液进行分析，快速普查超大范围的矿区，有效地测定地带模式，绘制矿山图、实时勘察现场、快速追踪矿化异常、有效地寻找“热点”地带，圈定矿体边界有重要作用。而通过对输送料、精矿、矿渣进行现场分析以确定、跟踪提炼或者浓缩过程的有效性有很大的保障。

此外，X荧光光谱分析仪还可以对矿场描绘以及品位控制。通过实时就地分析多个样本，实现对开采计划进行指导，有效地管理挖掘、爆破工作，在现场确定土壤、沉积物或者钻孔样本的地质成分，以有效控制勘探成本。它也能够对矿石、矿渣、土壤、沉积物以及其他类似的样品进行快速的金属元素含量分析。无论是进行原地检测还是非原地检测，功能强大的计算软件能够自动消除由于不同样品的材质差异所造成的偏差，从而使操作者仅需将仪器探测头直接接近样品便可进行检测，而无需其他任何数据输入或者进行再次校准。根据对检测精度的不同要求，测试时间仅需数秒到数分钟。