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关于X荧光光谱仪在检测均质材料时的规定——创想仪器(GLMY)

2026年01月22日 08:59:58      来源:无锡创想分析仪器有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:2

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使用X荧光光谱仪检测均质材料是确保X荧光光谱仪检测结果的精确度的必须过程,也是精确检测被测样品的必要步骤。那事实上有些人对于“均质材料”的确认还不是很熟悉,下面光谱仪厂家——创想仪器(GLMY)小编就为大家解释一下。

一般情况下,对于原材料,如聚合物材料(未经表面处理)、金属材料(未经表面处理)、辅材(焊锡、助焊剂、粘合剂、墨水、涂料)等,均视为均质材料,可以直接提交检测。经表面处理的材料的拆分可以咨询CEST专业技术人员。

注意特殊规定:

① 表面涂层、表面镀层的规定:表面处理层应尽量与本体分离(如涂层);对于确实无法分离的(如镀层),可对表面处理层进行初筛(如使用X 射线荧光光谱仪(XRF)等手段),筛选合格则不拆分;筛选不合格,可使用非机械方法分离(如使用能溶解表面处理层而不能溶解本体材料的化溶液学溶解提取)。

② 体积特殊规定:当拆分对象难以进一步拆分且体积≤1.2mm3 时,不必拆分,可以整体制样(如:0805类贴片类元件2.0×1.2×0.5mm的元件不必拆分)作为非均质检测单元,直接提交检测。

③ 有关重量的特殊规定:当拆分对象难以进一步拆分且重量≤10mg 时,不必拆分,作为非均质检测单元,直接提交检测。

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X荧光光谱仪


创想仪器GLMY,专注于分析检测仪器的研究开发销售,目前有台式X荧光光谱分析仪可供大家选择,欢迎。以上就是这次为大家带来的关于均质材料的确认问题,以实例讲解了。希望对大家有所帮助。

无锡创想分析仪器有限公司

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