CMOS平板探测器在X-Ray全自动盘料点数机应用

一、基于X-Ray的盘料点数机和传统点料机区别

传统的点料方法：

1. 原理：

传统的盘装电子物料点数方法是将料盘上封装的物料一端拉出，连接到带有收料盘的装置上，经过不同方式的传感器，通过对封装物料相邻间差异的识别实现物料个体封装的识别和计数，从而实现物料点数工作。

2. 局限性：

（1）此种方式点数周期长，若提高收料装置的牵引速度，可以一定程度上提率，但对物料包装的要求较高，以确保料带能够承受较大的拉力，物料的包装成本需要提高，所以由于牵引速度的限制，制约了点料速度的提高；

（2）若封装空间里没有物料，此种方法会出现误判，从而影响点数度。

X-Ray点料方法：

利用X光大角度透视的原理，得到盘料的X-Ray图像，通过软件分析，得到计数结果，相比传统的点料方式，大大的提高了工作效率，节约人工成本。 

原理示意图

物料料盘

X射线图像和软件分析结果

二、我司可以提供的产品

针对X-Ray点料机应用，我们可以提供高灵敏度和高动态范围的CMOS平板探测器，满足您多方面的需求。

 CMOS平板探测器，我们提供多种感应面积供选择，有12cmx7cm; 15cmx12cm; 23cmx7cm; 23cmx15cm; 29cmx23cm.zui小像元尺寸75um。