棱镜耦合测试仪利用波导耦合原理，测量薄膜或体材料的折射率、薄膜厚度，热光系数以及波导损耗等。对电介质及聚合物膜的膜厚和折射率 / 双折射进行快速及准确的测量。
测试原理：
是待测样品通过一个空气作用的耦合探头与棱镜基座接触,在薄膜与棱镜之间产生一个空气狭缝。根据查询相关资料显示：棱镜耦合测试仪采用棱镜耦合方法测试样品折射率，可测试波长633nm、935nm、1549nm处的折射率值，通过软件做曲线耦合科求出任何波段的模拟值。
主要特点：
1、中 / 厚膜膜厚及折射率 ( 尤其是光波导 )测量的选择。
2、不需要预先知道膜的厚度。
3、*的气压耦合方式 , 不需要加耦合液。
性能优势：
1、极大地提高了用户友好的控制程序 和新测量的功能，允许测量从常见到特殊的薄膜而不需依靠内部系数或菜单式校准曲线。
2、不必预先知晓厚度及折射率；
3、±0.0005 常规折射率分辨率 - 尤其在大批量生产时比其他技术更具优势(可获得更高折射率)；
4、通用化 - 没有固定的薄膜 / 基底合并菜单；
5、可测量双膜结构中的单膜厚度及折射率；
6、可进行体材料或基底材料的高折射率测量；
7、快速测量薄膜或漫反射光波导参数(20s)。
