高频介电常数测试仪 介质损耗测试仪 微波介电常数测试仪

　　主要技术特性：

　　介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

　　使用方法

　　高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。

　　1．测试注意事项

　　a．本仪器应水平安放；

　　b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；

　　c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；

　　d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；

　　e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；

　　f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

　　2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）

　　技术参数：

　　1．Q值测量

　　a．Q值测量范围：2～1023。

　　b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

　　c．标称误差

　　频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：

　　固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%

　　工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%

　　2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH

　　3．电容测量：1~205

　　主电容调节范围：18～220pF

　　准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%

　　注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明

　　4. 信号源频率覆盖范围

　　频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,

　　CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,

　　5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。

　　6．B-测试仪正常工作条件

　　a. 环境温度：0℃～+40℃；

　　b．相对湿度 lt;80％；

　　c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。