针对RoHS检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
提供专业玩具安全检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析
| 全自动X荧光光谱仪UX-310配置与参数 | |
| 探测器 | Amptek X-123 配置原厂MCA |
| 高压电源 | Spellman MNX50P50 |
| X光管 | 丹东 专用X光管 Mo靶 |
| 自动化操作系统 | 华唯砖利设计 实现：原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品及测试区域定位、样品盖开关、工作曲线选择全自动 |
| 分析软件 | UX-310专用版 V6.0 多元素分析软件、 镀层膜厚分析软件（二选一） |
| 技术参数 | |
| 仪器尺寸 | 570 (W)* 470(D)*480(H)mm |
| 样品腔尺寸 | 小样品腔：300(W)*300(D)*100(H)mm； 大样品腔：无限制，小于30公斤 |
| 重量 | 净重:50Kg |
| 工作环境 | 15—30℃ 相对湿度≤85%(不结露) |
| 可分析元素范围 | K-U |
| *低检出限 | Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm |
| 测量时间 | 200-400s |
| 探测器*佳分辨率 | 149±5eV |
| 电源 | AC 220V ± 10%，50Hz 1000W |
| 选配件 | |
| 多元素分析软件、膜厚分析软件（二选一） | |
| 六价铬测试仪（可进行六价铬的定量分析） | |
| 真空系统 （可真空测氯，*低检出限≤50PPm） | |
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