耦合测试卡，也称测试白卡，耦合卡，GSM模块：

材质：PVC纯原料+接触式芯片

工作温度：-20---70℃

尺寸：*54*（超薄，好插拔，不易磨损）

擦写寿命：10万次

存储容量：16*1024bits

插拔次数：1500-2000次。

产品包装：中性包装（白盒）

应用范围：手机、户外相机、WU人机、基站通信测试等，应用于通讯工业生产、测试过程中的使用。配合综合测试仪（安捷伦8960、安立、CMU200、CMW500、MT8820C等）对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中进行相关测试，需要屏蔽外界不良信号电波干忧，测试卡可以对外界信号实现信号至仪器到手机的路径，让测试环境更加简洁，从而达到测试的理想效果。

LTE 4G测试空白卡是一款可擦写、可冲切为Min-SIM、Micro-SIM、Nano-SIM尺寸的空白测试卡，应用于手机测试与综合仪器测试，只要用户有签权数据即可对LTE 4G测试空白卡进行读、写测试操作！

LTE 4G测试空白卡支持4G网络标准的USIM卡，可用于核心网基站测试，统称为4G核心网基站测试卡|4G测试白卡。