产品信息
名称：XDL® 230 X射线荧光镀层测厚仪
产品用途
典型的应用领域有：
● 测量大规模生产的电镀部件
● 测量超薄镀层，例如：装饰铬
● 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
● 测量印刷线路板
● 分析电镀溶液
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL230 有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。
由于采用了FISCHER基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
| 通用规格 | |
| 设计用途 | 能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXPF），用于测定超薄镀层和溶液分析。 |
| 元素范围 | 从元素氯（17）到铀（92） |
| 配有可选的WinFTM®BASIC软件时，多可同时测定24种元素 | |
| 设计理念 | 台式仪器，测量门向上开启 |
| 测量方向 | 由上往下 |
| X射线源 | |
| X射线管 | 带铍窗口的钨管 |
| 高压 | 三档：30KV，40KV，50KV |
| 孔径（准直器） | φ 可选：φ；φ；长方形 x |
| 测量点尺寸 | 取决于测量距离及使用的准直器大小 |
| 实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 | |
| 小的测量点大小约φ | |
| X射线探测 | |
| X射线接收器 | 比例接收器 |
| 测量距离 | 0~80mm，使用保护的DCM测量距离补偿法 |
| 样品定位 | |
| 视频系统 | 高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置 |
| 手动聚焦，对被测位置进行监控 | |
| 十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸） | |
| 可调节亮度的LED照明，激光光点用于定位样品 | |
| 放大倍数 | 40x~160x |
| 电器参数 | |
| 电源要求 | 200V，50Hz |
| 功率 | 大120W（不包括计算机） |
| 保护等级 | IP40 |
| 尺寸规格 | |
| 外部尺寸 | 宽x深x高（mm）：570x760x650 |
| 内部测量室尺寸 | 宽x深x高（mm）：460x495x（参考“样品大高度"部分的说明） |
| 重量 | 107KG |
| 环境要求 | |
| 使用时温度 | 10℃~40℃ |
| 存储或运输时温度 | 0℃~50℃ |
| 空气相对湿度 | ≤95% 无结露 |
| 工作台 | |
| 设计 | 手动X/Y平台 |
| X/Y平台大移动范围 | 92x150mm |
| 可用样品放置区域 | 420x450mm |
| Z轴 | 马达驱动 |
| Z轴移动范围 | 140mm |
| 样品大重量 | 20KG |
| 样品大高度 | 140mm |
| 激光（1级）定位点 | 有 |
| 计算单元 | |
| 计算机 | 带扩展卡的Windows®计算机系统 |
| 软件 | 标准：WinFTM® LIGHT |
| 可选：WinFTM® BASIC，PDM，SUPER | |
| 执行标准 | |
| CE合格标准 | EN 61010 |
| 型式许可 | 作为受保护的仪器 |
| 型式许可符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定 | |
备注：价格为单独主机价格，根据测量产品的类型不同还需要配置其他配件才能正常使用。详细配置方案和具体价格咨询客服人员。
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