产品信息
名称：XAN 215 X射线荧光镀层测厚仪
产品用途
典型的应用领域有:
●珠宝、贵金属和牙科用合金分析
● 黄金制品和K金制品分析
● 铂金制品和银制品分析
● 铑制品分析
● 其他合金分析和镀层厚度测量
● 多镀层厚度测量
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，从元素氯（17）到铀（92），多可同时测定24种元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，减少了校准仪器所需的时间和精力。Si-PIN的基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。
| 通用规格 | |
| 设计用途 | 采用能量色散型X射线荧光光谱法（EDXRF）， 用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度 |
| 元素范围 | 从元素氯（17）到铀（92），多可同时测定24种元素。 |
| 重复性 | 测量金元素时≤1‰，测量时间60秒 |
| 形式设计 | 台式仪器，测量门向上开启 |
| 测量方向 | 由下往上 |
| X射线源 | |
| X射线管 | 带铍窗口的钨靶射线管 |
| 高压 | 三档：30KV，40KV，50KV |
| 孔径（准直器） | φ1mm；可选φ2mm |
| 测量点尺寸 | 当测量距离MD=0mm时，测量点直径=孔径直径+200μm |
| X射线探测 | |
| X射线探测器 | 采用珀耳帖了法冷却的Si-PIN接收器 |
能量分辨率 （Mn元素Kα半高宽） | ≤180eV |
| 测量距离 | 0 10mm |
| 通过受保护的DCM测量距离补偿法，可在不同测量距离上不需要重新校准就能进行测量；对于特殊的应用或者对测量精度要求较高的测量，可能需要进行额外的校准。 | |
| 样品定位 | |
| 样品放置 | 手动 |
| 视频系统 | 高分辨率CCD彩色摄像头，可沿着初级X射线光束方向，手动焦距，对被测位置进行监控 |
| 十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸），可调节亮度的LED照明 | |
| 图像发达倍数 | 40x~160x |
| 工作台 | |
| 形式设计 | 固定工作台 |
| 样品放置可用区域 | 310x320mm |
| 样品大重量 | 13KG |
| 样品高高度 | 90mm |
| 电气参数 | |
| 电源要求 | AC 220V 50Hz |
| 功耗 | 大120W（不包括计算机） |
| 保护等级 | IP40 |
| 尺寸规格 | |
| 外部尺寸（宽x深x高） | 403x588x365mm |
| 重量 | 大约45KG |
| 环境要求 | |
| 使用时温度 | 10℃~40℃ |
| 存储或运输时温度 | 0℃~50℃ |
| 空气相对湿度 | ≤95%，无结露 |
| 计算单元 | |
| 计算机 | Windows®-PC |
| 软件 | 标准：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能 |
| 可选：Fischer WinFTM® | |
| 执行标准 | |
| CE合格标准 | EN 61010 |
| X射线标准 | DIN ISO 3497 和ASTM B 568 |
| 形式批准 | |
| 符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定 | |
备注：价格为单独主机价格，根据测量产品的类型不同还需要配置其他配件才能正常使用。详细配置方案和具体价格咨询客服人员。
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