RT-70V是由日本Napson公司推出的桌上型手动四探针电阻率量测设备。它运用四探针电阻率量针对半导体及其他导电材料进行测量，同时根据各种不同的需要，配备了多款不同的测试平台以便供客户选择。
- 整套测量系统由测量主机RT-70V和不用应用的平台组成
- 测量主机为RT-70V
通过旋钮调整输入样品厚度
主机带自我测试功能，及自动切换测量档位功能
- 应用：半导体材料、太阳能电池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)，新材料、功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、Ag纳米线等)
导电薄膜(金属、离子等)，扩散层，硅相关外延材料，离子注入样品。
- <测试平台>可根据实际测量应用从下列平台中选择
(1) RG-7C:自动测量，探头上下移动
(2) RG-7S:测量大尺寸样品，手动移动探头位置，探头自动上下移动
(3) TS-7D:手持式测量探头
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