国产台式X荧光测厚仪Ux-720探测系统

　　功能：对样品特征X射线进行探测，将采集来的信号进行数据处理，并将处理结果传输给计算机。

　　类型：Si-PIN X-123(美国)

　　Be窗 1mil(0.0254mm)

　　分辨率：145±5eV

　　系统峰背比：≥ 6200/1

　　能量响应范围：1keV — 40keV

　　推荐计数率：5000cps

　　Ux-720 精密镀层分析仪X射线荧光光谱仪是华唯公司经过3年研发，专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型，三重射线防护系统；人性化操作界面；华唯的VisualFp基本参数法分析软件，可盲测（即：无需标准样品标定），即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析，降低客户购买标准样品（尤其是特殊样品）成本。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。

　　X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

　　Ux-720微动平台

　　载物测试平台，微调装置在仪器右侧，通过旋转按钮来调节样品的移动，移动范围为X轴和Y轴各15mm。结合260万像素的高清CCD，对测试样品进行定位，防止样品放置好后关闭样品盖产生振动而使测试位置发生变化导致测试不准确。