X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，可以 测定元素含量。

　　近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。

　　大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

　　Ux-2100 Plus开放式工作曲线

　　符合国标要求(GB/T 3352-2016),如果有特殊需求，使用标准物质制作工作曲线，应对其他样品的测试。测试条件同样开放,用于设置对应样品的测试需求。

　　检测器直接测定的是元素X射线荧光的强度，而我们关心的是元素的含量。利用X射线荧光的强度与元素含量存在比例关系，我们通过测定已知含量的标准样品建立工作曲线(安装工程师设定)，再根据待测样品的X射线荧光的强度通过计算机自动换算为含量值。

　　X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。