美国International Light致力于提供各种 的光刻胶 仪器来实现这些困难的测量。ILT2400辐照计具有采用可能换分离探头设计，具有8个量级的动态测量范围，测量速度可达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，以手持研究质量，测光表和探测器均带NIST可溯源ISO17025认证校准报告。International Light XSD340A探头测量光谱范围320-475nm，校准于405nm，适用于PCB曝光系统光刻胶工艺、UVA光源强度，可测量8e-7 至10W/cm2曝光辐照强度。
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国际光学International Light XSD系列光阻剂曝光探测器
ILT2400+XSD140A：量程4e-8 to 0.7 W/cm2，响应波段320-475 nm，校准于405nm波长
ILT2400+XSD340A：量程8e-7 to 10 W/cm2，响应波段320-475 nm，校准于405nm波长
ILT2400+XSD140B：量程7e-8 to 1 W/cm2，光谱范围326-401 nm，中心波长365nm
ILT2400+XSD340B：量程3e-6 to 30W/cm2 高强度，测量光谱326-401 nm，校准于365nm
测光表及探头规格说明书download/201805/ILT2400_XSD340_SD140.pdf
美国International Light PCB印刷线路板曝光测量辐照计与探头选型表
| 辐照计/探头组合 | 响应波长频谱 | 测量范围 | 类型及应用 |
| ILT5000, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-9 ~ 2 W/cm² | 台式，Photoresist光刻胶/光阻材料， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻胶/光阻剂，同上 |
| ILT1000/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT1700, SED033/A/W | 320-475 nm | 7e-9 ~ 4 W/cm² | 台式，Photoresist光刻/光阻剂，同上 |
| ILT2400, XSD140A | 320-475 nm | 4e-8 ~ 0.7 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂， PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400+XSD340A | 320-475 nm | 8e-7 ~ 10 W/cm² | 同上，大功 强度辐照探头 |
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