SunScan 植物冠层分析仪(标准版)通过测量作物冠层PAR值提供了关 于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图
原理：
根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数
软件计算
SunScan 植物冠层分析仪(标准版)主要是通过测量冠层截获的光合有效辐射量(PAR)来计算叶面积指数（LAI），软件中涉及到的参数有：
直射和散射入射辐射光、叶面积指数、叶片透光率、叶倾角、天顶角、穿透辐射。在这几个参数中，天顶角是根据当地的时间、经度和纬度来计算的，叶片透光率和叶倾角是需要用户自己估计的，其他的参数都是直接测量得出的
基本技术指标：
| SS1探测器 | ||
| 探测器工作区域 | 1000×13mm宽，传感器间距15.6mm | |
| 探测器光谱响应 | 400 ~ 700nm (PAR) | |
| 探测器测量时间 | 120ms | |
| 探测器分辨率 | 0.3μmol. m-2.s-1 | |
| 探测器大读数 | 2500μmol.m-2.s-1 | |
| 精度 | ±10% | |
| 模拟输出 | 1 mV per μmol. m-2.s-1 | |
| 尺寸和重量 | 1300×100×130mm,1.7kg | |
| 供电 | 4节五号电池，约使用1年 | |
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| RPDA2手持终端 | ||
| 屏幕 | 1/4VGA屏幕，太阳光下依然显示清晰 | |
| 操作系统 | Windows 6 | |
| 显示项目 | LAI、PAR平均值、每个传感器的读数 | |
| 手持终端工作环境 | IP67防护等级，-30-60℃ | |
| 电源 | 可充电电池，约使用12小时 | |
| 手持终端存储 | 支持>100M | |
| 尺寸和重量 | 165×95×45mm，450g | |
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