XTL-12B倒置金相显微镜半导体硅晶片检测地质矿物分析
使用的金相物镜及平场目镜,成像,分辨率高,观察舒适。
提供*的图像质量和稳固可靠的机械结构。
选配相应的摄影摄像附件,可对观察图像进行采集和保存,配电脑和金相分析软件
图像进行金相图像分析。操作简便,附件,应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、工程测量等领域。
目镜:高眼点大视野目镜WF15X/13 高眼点大视野目镜WF20X/10mm
金相物镜: 长工作距平场消色差金相物镜100X
转换器:内定位五孔转换器
偏光装置: 起偏镜和检偏镜均可移出光路,检偏镜插板可360°旋转
摄影装置: 摄影接筒(带PK卡口),3.2X摄影目镜
摄像装置: 0.5X/1.0X C型摄像接筒
成像设备:300万像素工业相机、500万像素工业相机
软件:金相分析软件
光学系统:有限远色差校正系统
观察筒: 铰链式三目,45°倾斜,双边±5屈光度可调,瞳距调节范围:54-75mm,固定式分光比,双目:三目=80%:20%
目镜: 高眼点大视野平场目镜PL10X/18mm
金相物镜:长工作距平场消色差金相物镜5X,10X,20X、50X
转换器:内定位四孔转换器
调焦机构:低手位粗微调同轴调焦机构,粗动每转行程38 mm;微调精度2um,带松紧调节机构
载物台:三层机械移动平台,面积180mmX155mm,右手低手位控制,行程:75mm×40mm; 金属载物台板,中心孔直径φ12mm
照明系统:反射式柯拉照明,带可变孔径光阑和中心可调视场光阑,自适应90V-240V宽电压
6V30W卤素灯(可选配单颗3W LED灯),光强连续可调
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