ZEISS METROTOM工业计算机断层扫描产品介绍:
基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描(CT)利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精度的高要求。利用 ZEISS METROTOM 轻松完成测量任务轻金属部件的测量检验测量与检验整体部件ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系
ZEISS METROTOM工业计算机断层扫描产品概述:
基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描(CT)
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精度的高要求。
仟渔 | / |
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