产品介绍:
对于二次元表面粗度解析和段差、测定、实现高精度 .高分解能.优越安定性、微小的测定力可对应软质样品表面· 采用直动式检出器,可达到重现性测量产品特点试片尺寸ø200mm×高度50mm重现性1σ ≤ 1nm测定范围Z:600µm X:100mm分解能Z:0.1nm X:0.1µm测定力10µN~500µN (1mg-50mg)
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产品介绍:对于二次元表面粗度解析和段差、测定、实现高精度.高分解能.优越安定性、微小的测定力可对应软质样品表面·采用直动式检出器
产品介绍:
对于二次元表面粗度解析和段差、测定、实现高精度 .高分解能.优越安定性、微小的测定力可对应软质样品表面· 采用直动式检出器,可达到重现性测量产品特点试片尺寸ø200mm×高度50mm重现性1σ ≤ 1nm测定范围Z:600µm X:100mm分解能Z:0.1nm X:0.1µm测定力10µN~500µN (1mg-50mg)
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