表面扫描法 辐射发射测试
主要标准 ：
◆IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions
◆IEC 61967- 3: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 3: Measurement of radiated missions - Surface scan method
测试介绍 ：
表面扫描法是评估集成电路表面近电场和近磁场元件的一种方法。
这一测量方法可以应用在任何一个集成在印刷电路板上、方便于使用探针测量的集成电路上。通过对集成电路表面进行电场和磁场扫描，能够得到关于电磁辐射源相对强度的相关信息 。运用该方法可以准确地定位芯片上集成电路封装内电 磁辐射量过大的区域。
测试配置布置图：
主要测试设备：IC扫描仪等
测试环境：屏蔽室
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