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深圳ESD61002B智能型静电放电发生器

产品二维码
参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:
  • 品牌:
  • 产品类别:其他物理特性仪器
  • 所在地:深圳市
  • 信息完整度:
  • 样本:
  • 更新时间:2022-04-06 18:33:36
  • 浏览次数:18
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深圳市楚英豪科技有限公司

经销商

  • 经营模式:经销商
  • 商铺产品:196条
  • 所在地区:广东深圳市
  • 注册时间:2022-03-28
  • 最近登录:2022-04-06
  • 联系人:吴生 (经理)
产品简介

深圳ESD61002B智能型静电放电发生器*符合IEC61000-4-2和GB/T17626.2标准的要求,静电放电发生器在为评定电气和电子设备经受静电放电时的性能制定一个共同的准则,该技术已达到水平.

详情介绍

【详细说明】

 

深圳ESD61002B智能型静电放电发生器技术特点:

符合 IEC61000-4-2 和 GB/T17626.2 标准的要求;

液晶显示,智能控制

部分关键元器件采用产品,可靠、耐用。

设备小巧轻便,易于操作

内置静电放电标准四等级参数

使用程控高压电源,可靠性好

无论是接触放电还是空气放电,都可以持续在高电压工作

使用简单,无需注意操作顺序(有软件保护)

可以方便更换阻容器件,以满足不同标准的试验要求

可以根据国标标准变化,在原来设备上轻易升级

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

深圳ESD61002B智能型静电放电发生器主要技术参数

 

 

参数

ESD61002B

输出电压

0.2-± 30kV ± 5%

输出电压极性

 / 

放电电容

150pF

放电电阻

330 Ω

放电电流上升时间

0.7  1ns

工作形式

放电时间间隔可以设置在 0.05  99.99s 之间,可满足各种操作方式,如 20PPS 放电; 设置值小于 0.05s 时,是单次放电。

放电次数设定

 9999 或无限次

放电形式

接触放电

空气放电

放电次数

可预设置 1-9999 次或无限次

设备工作电源

AC220V ± 10%  50Hz

环境温度

15  -35 

 

可选附件:标准静电放电试验桌

试验台是为静电放电试验而专门设计的试验装置,符合IEC61000-4-2和GB/T17626.2标准,也可以用于脉冲群和衰减振荡波的抗扰度试验。

 

1.木制试验台

1.6m×宽0.8m×高0.8m
白色实木,用于ESD测试

2.参考接地板
材料:金属铝.2.0m×1.5m;1mm
用于测试木桌的地面参考板

3.水平耦合板

材料:金属铝.1.6m×0.8m;1mm
用于水平参考平面

4.绝缘垫

厚度小于0.5mm

5.垂直耦合板

材料:金属铝.0.5m×0.5m;2mm
用于ESD测试,加木制底座.

6.电阻线

2470kΩ;两根导线,2.0m1.2m

 

静电放电模型



一般工业界将组件的ESD测试分类为人体放电模型(Human Body Model, HBM),机器放电模型(Machine Model, MM)及组件充电模型(Charged Device Model, CDM),而组件充电模型又可分为socketednon-socketed两种测试方法。



HBM
人体放电模型是仿真人体因走动或其它因素而在人体上累积静电后,再去碰触到IC,人体上的静电便会经由碰触的脚位而进入IC内,若IC有一端接地而形成放电路径时,便会经由接地脚位放电。此放电的过程会在短短数百毫微秒(ns)的时间内产生数安培的瞬间放电电流,进而将IC内的电路烧毁。对一般组件可耐受的HBM 2 kV来说,在2~10 ns的时间内,瞬间电流峰值可达1.33 A



MM
机器放电模型则是70年代由日本人根据HBM的严重状况所发展出来。机器放电模式是仿真设备机器(例如机械手臂、测试夹具、手工具等)本身累积了静电,当此机器碰触IC时,静电便对该IC放电。虽然MMHBM的放电行为模式相类似,但当MM发生时皆为金属对金属的接触,因此接触电阻微乎其微,而且一般机器设备的电容皆远大于人体,因此可以储存更多的静电荷,所以不但造成放电的速度很快,放电电流也较HBM大了数倍,在几十毫微秒之内会有数安培的瞬间放电电流产生,因此机器放电模型对IC造成的破坏更大。而且由于电感效应的影响,MM放电时将以正负电流振荡的型式影响产品,因此造成的破坏将更加严重。



CDM
组件充电模型是指IC先因磨擦或感应等因素而在IC内部累积了静电,但在静电慢慢累积的过程中IC并未被损伤。此带有静电的IC在处理过程中,当其任一接脚碰触到接地导体时,IC内部的静电便会经由接脚流出而造成放电现象。此种模型的放电时间更短,仅约几个毫微秒。且因为IC内部累积的静电会因对地的等效电容值而变,而等效电容值又和IC摆放的角度与位置以及IC所用的包装型式有关,所以放电现象更难真实模拟。关于此放电模型的工业用测试机台有分为转接座式(socketed)与非转接座式(non-socketed)两种。目前socketed CDM测试方法尚无正式之标准规范文件,而non-socketed CDM主要的工业标准规范有ESD STM5.3.1-1999EIA/JESD22-C101-A: 2000两种[3], [4]

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